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回收Agilent 8753D | HP8753D矢量网络分析仪

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描述 :Agilent 8753D | HP8753D是我们其中一个用于矢量网络分析仪带有一个集成的S参数测试集和一系列的300 kHz至3或6千兆赫。

300 kHz至3或6千兆赫

内置在S参数测试集为完成正向和反向测量,可让您完全的特点您的组件与一个单一的连接

高超的准确性,与最全面的校准可用

可选时域和席卷谐波测量

混频器的测试与频偏能力

可选步骤衰减为延长源的输出功率范围

通过/失败测试,插值误差校正,测试序列分析,和用户定义的测试频率,以提高生产力

两个独立的显示器渠道,同时测量反射和透射特性

HP8753D,矢量网络分析仪,设备和组件的测量,在30 kHz至3 GHz的范围内。

Agilent 8753D | HP 8753D HP8753D ,矢量网络分析仪,提供的规模和相位信息,并且可以使群时延和时间域测量。

Agilent 8753D | HP 8753D HP8753D射频网络分析仪以低廉的价格为实验室和生产测试提供了优越的RF网络测量设备。它具有集成化的S参数测试装置,延长了校准间隔期、提高了可靠性并改善了抗静电放电能力。HP 8753D以比以往其它型号的测试设备更低的价格为分析30kHz~6GHz的有源或无源网络、器件与元件特性提供了完整的解决途径。

网络分析仪有2个独立的显示通道,供同时显示反射和传输、幅度和相位或供时域和扫频测量。便于使用的预编程按键使你能迅速访问各个测量功能,你可以在高分辨率彩色显示器上以重叠或分离屏面的形式观察测量结果。

最佳的通用性和性能 (HP8753D)

集成化的合成信号源提供达10mW的输出功率(选件011为100mW)、1Hz频率分辨率和线性、对数、列表和连续波扫描类型。三个调谐接收机允许在6GHz上(利用选件006频率扩展),在105dB的宽动态范围或在3GHz上在100dB的宽动态范围内(标准情况)进行独立功率测量或同时进行的比值测量。集成化测试装置允许在不使用倍频器的情况下,对工作到6GHz的器件进行传输和反射特性测量。 为了在非同轴系统中进行方便而精确的测量,特增加了TRL*/LRM*1校准。高稳定度的频率基准(选件1D5)提高了对高Q器件,如表面波(SAW)谐振腔或介质谐振滤波器的频率测量精度。

提高效率 (HP8753D)

测试时序功能允许一次来迅速、反复执行复杂的任务。在时序工作方式下,只需从面板测量一次,分析仪便能储存键入,以致无需额外编程,还可以利用测试时序经并行端口对外部装置进行控制。

另一些提高效率的措施包括支持LIF和DOS格式的内置磁盘驱动器、更快的CPU时钟速率、512kB非易失存储器、串行和并行接口,DIN键盘接口以及对打印输出和文件提供时间记录的实时时钟。还包括极限测试、任意频率测试和标记跟踪功能。分段校准和内插误差修正能提高分析仪已校频率范围的某一区段上的矢量精度。

非线性器件的测试 (HP8753D)

为了表征非线性器件的特性,选件002增加了谐波测量功能。可以直接或以dBc 显示放大器的扫描、二次和三次谐波电平。按动一个按钮,即可测量达-40dBc的谐波。功率计校准向对绝对输入或输出电平敏感的器件提供稳幅的绝对功率。HP8753D自动对HP436A、437B或438A功率计进行控制,使在测试系统中任何处的功率都调到具有功率计的精度。分析仪还完成混频器统调和变频损耗测量。还能进行固定IF和扫描IF测量。

时域分析 (HP8753D)

利用选件010,能观察在时域中的响应。该分析仪对频域数据的快速傅氏逆变换(FFT)进行计算,以显示反射系数或传输系数随时间变化的关系。两种时域分析方式能观察器件的阶跃响应或冲击响应或除去一些不希望的响应,如利用选通来除去接头失配。 1 TRL*和LRM*是直通-反射-传输线和传输线-反射-匹配校准技术的三取样器执行方式。

Agilent 8753D | HP 8753D HP8753D技术指标摘要

测试装置

集成化S参数测试装置以50Ω(标准)或75Ω(选件075)提供完满的正向和反向测量。外部测试装置由选件011提供。

测试端口输出(HP8753D)

频率特性

范围:

30kHz~3GHz(标准);3

0kHz~6GHz(选件006)

分辨率:1Hz

精度:±10ppm(在25℃±5℃时)

输出特性

功率范围:-85~10dBm

分辨率:0.05dB

电平精度:±1.0dB(相对于0dBm输出电平)

电平线性:(-15~+5dBm)±0.2dBm(典型值)30kHz~300kHz;

(+5 ~ +10dBm)±0.5dBm(典型值) 30kHz ~ 300kHz

阻抗:50Ω

二次谐波:在+10dBm处

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