阻抗分析仪 HIOKI IM3570 供应
欧阳R:135,3722,,9325
日置HIOKI IM3570阻抗分析仪简介:日置IM3570阻抗分析仪适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCR和L-Q的测量。
日置HIOKI IM3570阻抗分析仪特点:
1、基本精度±0.08%的高精度测量,分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量。
2、LCR模式下快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速测量。
3、日置IM3570阻抗分析仪适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCR和L-Q的测量。
4、1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查。
日置HIOKI IM3570阻抗分析仪技术参数:
测量模式
LCR(LCR测量),分析仪(扫描测量),连续测量
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