E4991A 射频阻抗/材料分析提供极限阻抗测量性能和功能强大的内置分析功能。它将为元器件和电路设计人员测量 3 GHz 以内的元器件提供创新功能,帮助他们进行研发工作。与反射测量技术不同,E4991A 使用射频电流–电压(RF-IV)技术,可在广泛的阻抗范围内提供更精确的阻抗测量结果。基本阻抗精度是 +/-0.8%。高 Q 精度有利于进行低功耗元器件分析。内置合成器具有 1 MHz到 3 GHz 的扫描范围和 1 mHz的分辨率。
材料评估
E4991A 提供完整的介电/磁性材料测量解决方案,涵盖 1 MHz 至 1 GHz的宽频率范围。
晶圆测量
借助E4991A-010 探针台连接套件,您可轻松地地将 Keysight E4991A 连接到射频探头系统(由 Cascade Microtech 提供)上进行晶圆测量。
温度特性评估
温度特性测试套件 E4991A-007 是一款为元器件和材料进行温度特性测量的新型解决方案。该选件可在 - 55°C 至 + 150°C 广泛的温度范围内提供高精度的温度特性分析功能,以及强大的温度漂移补偿功能。
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