回收Agilent安捷伦N7788B光元器件分析仪
主要优点
单次扫描的最高精度:无需对多次扫描进行平均
测量速度快
在不到10秒的时间内完成C / L波段的测量(无需等待很多平均值)
抗纤维运动/振动和漂移的坚固性
描述
是德科技利用N7788BD组件分析仪推动了元件测量的极限。其专有技术可与众所周知的Jones-Matrix-Eigenanalysis(JME)相媲美,后者是测量光学器件的偏振模色散(PMD)或差分群延迟(DGD)的标准方法。
是德科技的新型单扫描技术提供了一系列优势来测试一整套参数:
DGD / PMD
PDL
电力流失
TE / TM-Loss
二阶PMD
极化主要国家(PSPs)
琼斯和穆勒矩阵
专为制造车间设计
高通量:在不到10秒的时间内完成C和L波段的完整分析!
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