IM7580日本日置IM7580阻抗分析仪
日本日置IM7580阻抗分析仪
300MHz快、通过高速测量和高反复精度缩短工时、加速生产
测量频率1MHz~300MHz
测量时间:0.5ms
基本精度±0.72%rdg.
紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小
丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定)
使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量
HIOKI日置阻抗分析仪IM7580的特点:
1.最高300MHz的高频测量
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