安捷伦4156B 半导体参数分析仪
4156B 是安捷伦的半导体参数分析仪。半导体参数分析仪是用于各种测量功能的多合一工具。半导体参数分析仪可以测量和分析多种电子设备、材料、有源或无源元件、半导体或任何其他类型的电子设备的电气特性。工程师使用这台测试设备来监测不同类型设备中的电流和电压响应。附加的功能:
高分辨率/准确度和宽范围。I:1 fA 至 1 A(20 fA 偏移精度),V:1μV 至 200 V
采用直流或脉冲模式的全自动 IV 扫描测量,可扩展至 6 个 SMU
同步应力/测量功能,两个高压脉冲发生器单元 (±40 V)
时域测量:60μs – 可变间隔,最多 10,001 个点
易于使用:类似于曲线跟踪器的旋钮扫描,自动分析功能
自动化:内置 HP Instrument BASIC、触发 I/O 功能
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