HP 惠普4156B半导体参数分析仪
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4156C精密半导体参数测试仪是Agilent下一代的精密半导体参数测试仪,4156C为器件表征提供了***参数分析的实验室平台。较高的低电流、低电压分辨率和内置准静态CV测量能力,4156C还为以后和其他的测量仪器的扩展使用提供了坚实的基础。41501B扩展测量能力到1A/200V,并给4156C增加一个低的噪声接地单元和双脉冲发生器。
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