IM7580A 供应 HIOKI IM7580A
欧阳R:135,3722,,9325
快0.5ms,高速、高稳定测量,节省空间的半个机架大小
测量频率1MHz~300MHz
测量时间: 快0.5ms
基本精度±0.72%rdg.
紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小
丰富的 检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定)
使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量
主机不带测试治具。需要使用阻抗分析仪IM7580A专用的测试治具。
基本参数
测量模式 LCR(LCR测量),分析(扫频测量),连续测量
测量参数 Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q
精度保证范围 100 mΩ~5 kΩ
显示范围 Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ)
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