Agilent N7788BD光元器件分析仪 供应
欧阳R:135,3722,,9325
Agilent N7788BD光元器件分析仪
主要特性与技术指标的
主要优点
单次扫描的准确性 高:无需对多个扫描进行平均
测量速度高测量速度
只需不到10秒即可在C / L波段完成完整测量(无需等待多次平均)
坚固耐用的光纤运动/振动和漂移
描述
Keysight Technologies借助N7788BD组件分析仪突破了组件测量的困难限。它的专有技术可与 的Jones-Matrix-Eigenanalysis(JME)相媲美,后者是测量光学设备的偏振模色散(PMD)或差分群时延(DGD)的标准方法。
是德科技的新型单次扫描技术可提供一系列优势来测试整套参数:
DGD / PMD
PDL
功率/损耗
TE / TM损耗
2阶PMD偏振的
主偏振态(PSP)
Jones和Mueller矩阵
专为制造车间而设计
高通量:在10秒钟内即可完成对C和L波段的完整分析!
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