1.仪器的基本信息:
仪器名称:扫描电子显微镜
英文名:Scanning Electron Microscope
型号:Hitachi S-3400N
产地:日本
2.仪器的用途:
Hitachi S—3400N型扫描电子显微镜,主要用于对材料的微观形貌、组织和成分进行有效分析。
3.仪器的性能指标:
1)分辨率
二次电子探头:≤3.0 nm(在30kV,高真空模式),≤10 nm(在3 kV,高真空模式);被散射探头
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